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Edon, V., Hugon, M. .-C., Agius, B., Durand, O., Eypert, C. & Cardinaud, C. (2008) Investigation of lanthanum and hafnium-based dielectric films by X-ray reflectivity, spectroscopic ellipsometry and X-ray photoelectron spectroscopy. Thin Solid Films, 516 7974–7978.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:58:41 Pop. 0.75%
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