Javascript is disabled or not supported in your browser. JavaScript must be enabled in order for you to use WIKINDX fully. Enable JavaScript through your browser options then try again, otherwise, try using a different browser.

Biblio. IMN

Wikindx
Références
- Signets...
  - Ajouter
- Référence au hasard
- Dernière liste consultée
Recherche
- Recherche simple
- Recherche avancée
- Sélection par critères
- Lister tout par...
- Parcourir par...
  - Type
  - Créateur
  - Citation
  - Collection...
    - Tout
    - Livre
    - Revue
    - Actes
  - Éditeurs...
    - Tout
    - Livre
    - Conférence
  - Année
  - Mots-clés
  - Catégorie
  - Sous-catégorie
  - Langue
  - Utilisateur
  - Département
  - Institution
- Catégories

Liste de références

Affichage de 1 - 1 de 1 (Bibliographie: Bibliographie WIKINDX globale)
Paramètres :
Mot-clé: X-ray microscopy

Berrada, K., Targaoui, H., Kaddouri, A., Louarn, G., Froyer, G. & Outzourhit, A. (2007) Light emission and scanning electron microscopic characterization of porous silicon. Spectr. Lett. 40 753–762.
Ajoutée par : Laurent Cournède 2016-03-10 22:02:31	Pop. 1%