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Bittencourt, C., Hitchock, A. P., Ke, X., Van Tendeloo, G., Ewels, C. P. & Guttmann, P. (2012) X-ray absorption spectroscopy by full-field X-ray microscopy of a thin graphite flake: Imaging and electronic structure via the carbon K-edge. Beilstein J. Nanotechnol. 3 345–350.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:28:39 Pop. 1%
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