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Bahi, M. A., Lecuyer, P., Gentil, A., Fremont, H., Landesman, J.-P., Christien, F. & Le Gall, R. (2008) Degradation Mechanisms of Au-Al Wire Bonds During Qualification Tests at High Temperature for Automotive Applications: Quality Improvement by Process Modification. IEEE Trans. Device Mater. Reliab. 8 484–489.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:58:41 Pop. 0.5%
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Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:23:30 Pop. 0.5%
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Last edited by: Richard Baschera 2020-07-20 14:34:16 Pop. 1.75%
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