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Mot-clé: Auger electron spectroscopy

Gaucher, A., Baylet, J., Rothman, J., Martinez, E. & Cardinaud, C. (2013) Characterization of Plasma Etching Process Damage in HgCdTe. J. Electron. Mater. 42 3006–3014.
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:23:29	Pop. 1%
Gaucher, A., Martinez, E., Baylet, J. & Cardinaud, C. (2014) Quantitative Auger Electron Spectroscopic Analysis of Hg1-x Cd (x) Te. J. Electron. Mater. 43 1255–1262.
Added by: Florent Boucher 2016-04-29 09:26:44	Pop. 0.75%