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Nguyen, T. P., Renaud, C., Huang, C. H., Lo, C.-N., Lee, C.-W. & Hsu, C.-S. (2008) Effect of electrical operation on the defect states in organic semiconductors. J. Mater. Sci.-Mater. Electron. 19 S92–S95.
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:58:40	Pop. 0.75%
Renaud, C. & Nguyen, T.-P. (2009) Study of trap states in polyspirobifluorene based devices: Influence of aging by electrical stress. J. Appl. Phys. 106 053707.
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:41:23	Pop. 0.75%
Renaud, C., Huang, C. H., Zemmouri, M., Le Rendu, P. & Nguyen, T. P. (2006) Study of traps in polydiacetylene based devices using TSC technique. Eur. Phys. J.-Appl. Phys, 36 215–218.
Added by: Florent Boucher 2016-05-12 13:21:36	Pop. 0.75%
Ton-That, C., Lem, L. L. C., Phillips, M. R., Reisdorffer, F., Mevellec, J., Nguyen, T. .-P., Nenstiel, C. & Hoffmann, A. (2014) Shallow carrier traps in hydrothermal ZnO crystals. New J. Phys. 16 083040.
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:01:55	Pop. 1%