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Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:32:19 Pop. 0.75%
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Last edited by: Richard Baschera 2023-08-24 08:51:17 Pop. 3.25%
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Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 18:36:41 Pop. 1%
Nguyen, D. T., Ferrec, A., Keraudy, J., Richard-Plouet, M., Goullet, A., Cattin, L., Brohan, L. & Jouan, P. .-Y. (2014) Ellipsometric and XPS characterization of transparent nickel oxide thin films deposited by reactive HiPIMS. Surf. Coat. Technol. 250 21–25.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:01:55 Pop. 1%
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