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Guttmann, P., Bittencourt, C., Rehbein, S., Umek, P., Ke, X., Van Tendeloo, G., Ewels, C. P. & Schneider, G. (2012) Nanoscale spectroscopy with polarized X-rays by NEXAFS-TXM. Nat. Photonics, 6 25–29.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:28:40 Pop. 1%
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