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Auteur:  Fox
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McNeil, P., Guillemin, T., Fox, M., Le Bideau, J. & Dunn, B. (2022) Characterization of Fragility in Silica-Based Ionogels. Journal of Physical Chemistry C,   
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Valero, A., Mery, A., Gaboriau, D., Dietrich, M., Fox, M., Chretien, J., Pauc, N., Jouan, P. Y., Gentile, P. & Sadki, S. (2021) Redefining high-k dielectric materials vision at nanoscale for energy storage: A new electrochemically active protection barrier. Electrochimica Acta, 389 138727.   
Last edited by: Richard Baschera 2021-09-27 09:06:01 Pop. 1.75%
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