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Auteur:  Ahmad
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Achour, A., Islam, M., Ahmad, I., Le Brizoual, L., Djouadi, A. & Brousse, T. (2018) Influence of surface chemistry and point defects in TiN based electrodes on electrochemical capacitive storage activity. Scripta Materialia, 153 59–62.   
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Achour, A., Lucio-Porto, R., Solaymani, S., Islam, M., Ahmad, I. & Brousse, T. (2018) Reactive sputtering of vanadium nitride thin films as pseudo-capacitor electrodes for high areal capacitance and cyclic stability. Journal of Materials Science-Materials in Electronics, 29 13125–13131.   
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