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Baudet, E., Cardinaud, C., Girard, A., Rinnert, E., Michel, K., Bureau, B. & Nazabal, V. (2016) Structural analysis of RF sputtered Ge-Sb-Se thin films by Raman and X-ray photoelectron spectroscopies. Journal of Non-Crystalline Solids, 444 64–72.
Added by: administrateur (2016-08-24 13:18:19) Last edited by: administrateur (2016-08-25 14:00:55) |
| Type de référence: Article DOI: 10.1016/j.jnoncrysol.2016.04.017 Numéro d'identification (ISBN etc.): 0022-3093 Clé BibTeX: Baudet2016 Voir tous les détails bibliographiques  |
Catégories: PCM Créateurs: Baudet, Bureau, Cardinaud, Girard, Michel, Nazabal, Rinnert Collection: Journal of Non-Crystalline Solids |
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