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Unger, W. E. S., Senoner, M., Stockmann, J. M., Fernandez, V., Fairley, N., Passiu, C., Spencer, N. D. & Rossi, A. (2021) Summary of ISO/TC 201 International Standard ISO 18516:2019 Surface chemical analysis-Determination of lateral resolution and sharpness in beam-based methods with a range from nanometres to micrometres and its implementation for imaging laboratory X-ray photoelectron spectrometers (XPS). Surface and Interface Analysis,   
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