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Tranchant, J., Tessier, P. Y., Landesman, J. P., Djouadi, M. A., Angleraud, B., Renault, P. O., Girault, B. & Goudeau, P. (2008) Relation between residual stresses and microstructure in Mo(Cr) thin films elaborated by ionized magnetron sputtering. Surf. Coat. Technol. 202 2247–2251.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:58:42 Pop. 0.75%
Tranchant, J., Angleraud, B., Tessier, P. Y., Besland, M. P., Landesman, J. P. & Djouadi, M. A. (2006) Residual stress control in MoCr thin films deposited by ionized magnetron sputtering. Surf. Coat. Technol. 200 6549–6553.   
Added by: Florent Boucher 2016-05-12 13:21:37 Pop. 0.5%
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