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Errien, N., Vellutini, L., Louarn, G. & Froyer, G. (2007) Surface characterization of porous silicon after pore opening processes, inducing chemical modifications. Appl. Surf. Sci. 253 7265–7271.
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 22:02:30	Pop. 1.75%
Pereira, J., Pichon, L. E., Dussart, R., Cardinaud, C., Duluard, C. Y., Oubensaid, E. H., Lefaucheux, P., Boufnichel, M. & Ranson, P. (2009) In situ x-ray photoelectron spectroscopy analysis of SiOxFy passivation layer obtained in a SF6/O-2 cryoetching process. Appl. Phys. Lett. 94 071501.
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:41:24	Pop. 1%