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Nguyen, T. P., Renaud, C., Huang, C. H., Lo, C.-N., Lee, C.-W. & Hsu, C.-S. (2008) Effect of electrical operation on the defect states in organic semiconductors. J. Mater. Sci.-Mater. Electron. 19 S92–S95.
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:58:40	Pop. 0.75%
Renaud, C. & Nguyen, T.-P. (2009) Study of trap states in polyspirobifluorene based devices: Influence of aging by electrical stress. J. Appl. Phys. 106 053707.
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:41:23	Pop. 0.75%
Renaud, C., Huang, C. H., Lee, C. W., Le Rendu, P. & Nguyen, T. P. (2008) Study of trap states in polyfluorene based devices by using TSC technique. Thin Solid Films, 516 7209–7213.
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:58:41	Pop. 1.5%