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Bertaud, T., Bermond, C., Challali, F., Goullet, A., Vallee, C. & Flechet, B. (2011) Ultra wide band frequency characterization of integrated TiTaO-based metal-insulator-metal devices. J. Appl. Phys. 110 044110.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:32:20 Pop. 1%
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