IMN

Biblio. IMN

Liste de références

Affichage de 1 - 2 de 2 (Bibliographie: Bibliographie WIKINDX globale)
Paramètres :
Mot-clé:  X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
Ordonner par

Croissant
Décroissant
Utiliser tout ce qui est coché 
Utiliser tout ce qui est affiché 
Utiliser tous les items 
Ettouri, R., Tillocher, T., Lefaucheux, P., Boutaud, B., Fernandez, V., Fairley, N., Cardinaud, C., Girard, A. & Dussart, R. (2022) Combined analysis methods for investigating titanium and nickel surface contamination after plasma deep etching. Surface and Interface Analysis, 54 134.   
Last edited by: Richard Baschera 2022-06-16 09:27:17 Pop. 3%
Ondracka, P., Necas, D., Carette, M., Elisabeth, S., Holec, D., Granier, A., Goullet, A., Zajickova, L. & Richard-Plouet, M. (2020) Unravelling local environments in mixed TiO2-SiO2 thin films by XPS and ab initio calculations. Appl. Surf. Sci. 510 145056.   
Last edited by: Richard Baschera 2020-03-13 14:52:57 Pop. 1%
wikindx 4.2.2 ©2014 | Références totales : 2612 | Requêtes métadonnées : 37 | Exécution de script : 0.08711 secs | Style : Harvard | Bibliographie : Bibliographie WIKINDX globale