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Mot-clé:  X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
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Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:23:30 Pop. 0.75%
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Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:37:32 Pop. 0.75%
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Last edited by: Richard Baschera 2021-11-18 10:01:45 Pop. 2.5%
Ondracka, P., Necas, D., Carette, M., Elisabeth, S., Holec, D., Granier, A., Goullet, A., Zajickova, L. & Richard-Plouet, M. (2020) Unravelling local environments in mixed TiO2-SiO2 thin films by XPS and ab initio calculations. Appl. Surf. Sci. 510 145056.   
Last edited by: Richard Baschera 2020-03-13 14:52:57 Pop. 1%
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