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Nguyen, D. T., Ferrec, A., Keraudy, J., Richard-Plouet, M., Goullet, A., Cattin, L., Brohan, L. & Jouan, P. .-Y. (2014) Ellipsometric and XPS characterization of transparent nickel oxide thin films deposited by reactive HiPIMS. Surf. Coat. Technol. 250 21–25.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:01:55 Pop. 1%
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