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Edon, V., Hugon, M. C., Agius, B., Cohen, C., Cardinaud, C. & Eypert, C. (2007) Structural and electrical properties of the interfacial layer in sputter deposited LaAlO3/Si thin films. Thin Solid Films, 515 7782–7789.
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 22:02:29	Pop. 1%
Smaranda, I., Mihut, L., Baibarac, M., Baltog, I. & Lefrant, S. (2014) Abnormal anti-Stokes Raman scattering and coherent backscattering as manifestation of Anderson localization of light in nonlinear mesoscopic materials. Opt. Eng. 53 097109.
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:01:55	Pop. 1.5%