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Macielak, K., Igalson, M., Zabierowski, P., Barreau, N. & Arzel, L. (2015) Defect levels in Cu(In,Ga)Se-2 polycrystalline layers by sub-bandgap photo-induced current transient spectroscopy. Thin Solid Films, 582 383–386.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 18:36:41 Pop. 0.5%
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