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Auteur:  Li
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Li, D., Zhang, W. & Goullet, A. (2020) Influence of PECVD-TiO2 film morphology and topography on the spectroscopic ellipsometry data fitting process. Mod. Phys. Lett. B, 34 2050228.   
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Li, D., Dai, S., Goullet, A. & Granier, A. (2019) Ion impingement effect on the structure and optical properties of TixSi1-xO2 films deposited by ICP-PECVD. Plasma Processes and Polymers, 16 1900034.   
Last edited by: Richard Baschera 2019-08-23 13:39:11 Pop. 0.75%
Li, D., Elisabeth, S., Granier, A., Carette, M., Goullet, A. & Landesman, J.-P. (2016) Structural and Optical Properties of PECVD TiO2-SiO2 Mixed Oxide Films for Optical Applications. Plasma Process. Polym. 13 918–928.   
Last edited by: Richard Baschera 2016-12-14 15:59:44 Pop. 1%
wikindx 4.2.2 ©2014 | Références totales : 2608 | Requêtes métadonnées : 42 | Exécution de script : 0.20565 secs | Style : Harvard | Bibliographie : Bibliographie WIKINDX globale