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Auteur:  Cohen
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Edon, V., Hugon, M. C., Agius, B., Cohen, C., Cardinaud, C. & Eypert, C. (2007) Structural and electrical properties of the interfacial layer in sputter deposited LaAlO3/Si thin films. Thin Solid Films, 515 7782–7789.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 22:02:29 Pop. 1%
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