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Auteur:  Edon
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Edon, V., Li, Z., Hugon, M. .-C., Krug, C., Bastos, K. P., Miotti, L., Baumvol, I. J. R., Cardinaud, C., Durand, O. & Eypert, C. (2008) Electrical properties and interfacial characteristics of RuO2/HfAlOx/SiON/Si and RuO2/LaAlO3/SiON/Si capacitors. J. Electrochem. Soc. 155 H661–H668.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:58:43 Pop. 0.75%
Edon, V., Hugon, M. .-C., Agius, B., Durand, O., Eypert, C. & Cardinaud, C. (2008) Investigation of lanthanum and hafnium-based dielectric films by X-ray reflectivity, spectroscopic ellipsometry and X-ray photoelectron spectroscopy. Thin Solid Films, 516 7974–7978.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:58:41 Pop. 0.5%
Edon, V., Hugon, M. C., Agius, B., Cohen, C., Cardinaud, C. & Eypert, C. (2007) Structural and electrical properties of the interfacial layer in sputter deposited LaAlO3/Si thin films. Thin Solid Films, 515 7782–7789.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 22:02:29 Pop. 0.5%
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