Javascript is disabled or not supported in your browser. JavaScript must be enabled in order for you to use WIKINDX fully. Enable JavaScript through your browser options then try again, otherwise, try using a different browser.

Biblio. IMN

Wikindx
Références
- Signets...
  - Ajouter
- Référence au hasard
- Dernière liste consultée
Recherche
- Recherche simple
- Recherche avancée
- Sélection par critères
- Lister tout par...
- Parcourir par...
  - Type
  - Créateur
  - Citation
  - Collection...
    - Tout
    - Livre
    - Revue
    - Actes
  - Éditeurs...
    - Tout
    - Livre
    - Conférence
  - Année
  - Mots-clés
  - Catégorie
  - Sous-catégorie
  - Langue
  - Utilisateur
  - Département
  - Institution
- Catégories

Liste de références

Affichage de 1 - 3 de 3 (Bibliographie: Bibliographie WIKINDX globale)
Paramètres :
Auteur: Yangui

Ordonner par

Croissant
Décroissant

Utiliser tout ce qui est coché
Utiliser tout ce qui est affiché
Utiliser tous les items

Rouahi, A., Kahouli, A., Challali, F., Besland, M. P., Vallee, C., Yangui, B., Salimy, S., Goullet, A. & Sylvestre, A. (2013) Impedance and electric modulus study of amorphous TiTaO thin films: highlight of the interphase effect. J. Phys. D-Appl. Phys. 46 065308.
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:23:31	Pop. 1%
Rouahi, A., Kahouli, A., Challali, F., Besland, M. P., Vallee, C., Pairis, S., Yangui, B., Salimy, S., Goullet, A. & Sylvestre, A. (2012) Dielectric relaxation study of amorphous TiTaO thin films in a large operating temperature range. J. Appl. Phys. 112 094104.
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:28:38	Pop. 0.75%
Rouahi, A., Challali, F., Dakhlaoui, I., Vallee, C., Salimy, S., Jomni, F., Yangui, B., Besland, M. P., Goullet, A. & Sylvestre, A. (2016) Structural and dielectric characterization of sputtered Tantalum Titanium Oxide thin films for high temperature capacitor applications. Thin Solid Films, 606 127–132.
Last edited by: Richard Baschera 2016-06-03 13:58:09	Pop. 1%