IMN

Biblio. IMN

Liste de références

Affichage de 1 - 5 de 5 (Bibliographie: Bibliographie WIKINDX globale)
Paramètres :
Auteur:  Challali
Ordonner par

Croissant
Décroissant
Utiliser tout ce qui est coché 
Utiliser tout ce qui est affiché 
Utiliser tous les items 
Challali, F., Besland, M. P., Benzeggouta, D., Borderon, C., Hugon, M. C., Salimy, S., Saubat, J. C., Charpentier, A., Averty, D., Goullet, A. & Landesman, J. P. (2010) Investigation of BST thin films deposited by RF magnetron sputtering in pure Argon. Thin Solid Films, 518 4619–4622.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:37:32 Pop. 0.5%
Rouahi, A., Kahouli, A., Challali, F., Besland, M. P., Vallee, C., Pairis, S., Yangui, B., Salimy, S., Goullet, A. & Sylvestre, A. (2012) Dielectric relaxation study of amorphous TiTaO thin films in a large operating temperature range. J. Appl. Phys. 112 094104.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:28:38 Pop. 0.5%
Rouahi, A., Kahouli, A., Challali, F., Besland, M. P., Vallee, C., Yangui, B., Salimy, S., Goullet, A. & Sylvestre, A. (2013) Impedance and electric modulus study of amorphous TiTaO thin films: highlight of the interphase effect. J. Phys. D-Appl. Phys. 46 065308.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:23:31 Pop. 0.5%
Rouahi, A., Challali, F., Dakhlaoui, I., Vallee, C., Salimy, S., Jomni, F., Yangui, B., Besland, M. P., Goullet, A. & Sylvestre, A. (2016) Structural and dielectric characterization of sputtered Tantalum Titanium Oxide thin films for high temperature capacitor applications. Thin Solid Films, 606 127–132.   
Last edited by: Richard Baschera 2016-06-03 13:58:09 Pop. 0.75%
Salimy, S., Challali, F., Goullet, A., Besland, M. .-P., Carette, M., Gautier, N., Rhallabi, A., Landesman, J. P., Toutain, S. & Averty, D. (2013) Electrical Characteristics of TiTaO Thin Films Deposited on SiO2/Si Substrates by Magnetron Sputtering. ECS Solid State Lett. 2 Q13–Q15.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:23:32 Pop. 0.5%
wikindx 4.2.2 ©2014 | Références totales : 2620 | Requêtes métadonnées : 49 | Exécution de script : 0.20874 secs | Style : Harvard | Bibliographie : Bibliographie WIKINDX globale