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Auteur:  Danet
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Boniface, M., Quazuguel, L., Danet, J., Guyomard, D., Moreau, P. & Bayle-Guillemaud, P. (2016) Nanoscale Chemical Evolution of Silicon Negative Electrodes Characterized by Low-Loss STEM-EELS. Nano Lett. 16 7381–7388.   
Last edited by: Richard Baschera 2017-02-02 13:52:24 Pop. 1%
Danet, J., Brousse, T., Rasim, K., Guyomard, D. & Moreau, P. (2010) Valence electron energy-loss spectroscopy of silicon negative electrodes for lithium batteries. Phys. Chem. Chem. Phys. 12 220–226.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:37:33 Pop. 1.75%
Donval, G., Moreau, P., Danet, J., Larbi, S. J.-S., Bayle-Guillemaud, P. & Boucher, F. (2017) A hybrid method using the widely-used WIEN2k and VASP codes to calculate the complete set of XAS/EELS edges in a hundred-atoms system. Phys. Chem. Chem. Phys. 19 1320–1327.   
Last edited by: Richard Baschera 2017-02-17 14:49:32 Pop. 1.25%
Gauthier, M., Danet, J., Lestriez, B., Roue, L., Guyomard, D. & Moreau, P. (2013) Nanoscale compositional changes during first delithiation of Si negative electrodes. J. Power Sources, 227 237–242.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:23:31 Pop. 1%
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