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Auteur:  Gaucher
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Gaucher, A., Baylet, J., Rothman, J., Martinez, E. & Cardinaud, C. (2013) Characterization of Plasma Etching Process Damage in HgCdTe. J. Electron. Mater. 42 3006–3014.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:23:29 Pop. 1%
Gaucher, A., Martinez, E., Baylet, J. & Cardinaud, C. (2014) Quantitative Auger Electron Spectroscopic Analysis of Hg1-x Cd (x) Te. J. Electron. Mater. 43 1255–1262.   
Added by: Florent Boucher 2016-04-29 09:26:44 Pop. 0.75%
Gaucher, A., Martinez, E., Baylet, J. & Cardinaud, C. (2014) Quantitative Auger Electron Spectroscopy Analysis of Hg1-x Cd (x) Te (vol 43, pg 1255, 2014). J. Electron. Mater. 43 2770–2770.   
Added by: Laurent Cournède 2016-03-10 21:01:55 Pop. 1%
wikindx 4.2.2 ©2014 | Références totales : 2855 | Requêtes métadonnées : 37 | Exécution de script : 0.53503 secs | Style : Harvard | Bibliographie : Bibliographie WIKINDX globale